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中圖儀器光學(xué)輪廓儀W系列采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測(cè)量系統(tǒng),保證測(cè)量精度高。能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。
中圖儀器SuperViewW1光學(xué)檢測(cè)設(shè)備輪廓儀主要是用于測(cè)量表面形貌或測(cè)量表面輪廓尺寸,此外具有測(cè)量晶圓翹曲度的功能,非常適合晶圓,太陽(yáng)能電池和玻璃面板的翹曲度測(cè)量,應(yīng)變測(cè)量以及表面形貌測(cè)量??蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
中圖儀器SuperViewW系列高精密光學(xué)輪廓儀由照明光源系統(tǒng),光學(xué)成像系統(tǒng),垂直掃描系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)構(gòu)成。以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),是一款非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。
SuperViewW1半導(dǎo)體光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x器用于表面形貌紋理,微觀結(jié)構(gòu)分析,用于測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),廣泛應(yīng)用于光學(xué),半導(dǎo)體,材料,精密機(jī)械等領(lǐng)域。是以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。
SJ5760-PR輪廓尺寸測(cè)量?jī)x器測(cè)量精度高,量程大,測(cè)量速度快,智能化應(yīng)用與檢定軟件相結(jié)合,保護(hù)測(cè)針和測(cè)量系統(tǒng),儀器操作靈活自如,可以大大提高測(cè)量工作效率。是一款集成表面粗糙度和輪廓測(cè)量的測(cè)量?jī)x器。
中圖儀器SJ5700尺寸輪廓測(cè)量?jī)x具有精度高,量程大,測(cè)量速度快等特點(diǎn)。智能化應(yīng)用與檢定軟件相結(jié)合,保護(hù)測(cè)針和測(cè)量系統(tǒng),儀器操作靈活自如,可以大大提高測(cè)量工作效率。測(cè)量效率高、操作簡(jiǎn)單、適用于車間檢測(cè)站或計(jì)量室使用。
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